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計(jì)量論壇

標(biāo)題: 涂層測(cè)厚儀校正方法 [打印本頁(yè)]

作者: danni 時(shí)間: 2011-4-23 14:11
標(biāo)題: 涂層測(cè)厚儀校正方法
哪位大俠有涂層測(cè)厚儀校正方法，謝謝

作者: liuyajun 時(shí)間: 2011-4-23 14:26
一般有零點(diǎn)校正和多點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法

作者: nmzzcd 時(shí)間: 2011-5-4 23:11
查看JJG818-2005磁性、電渦流式覆層測(cè)厚儀檢定規(guī)程。
還有，一般測(cè)厚儀的說(shuō)明書上都會(huì)寫儀器的校準(zhǔn)方法。因?yàn)椴恢滥愕臏y(cè)厚儀的型號(hào)規(guī)格，這里我給你一份TT220測(cè)厚儀的儀器校準(zhǔn)方法。
為使測(cè)量準(zhǔn)確，應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
一、校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。
1．校準(zhǔn)箔
對(duì)本儀器“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)。
2．有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于本儀器，覆蓋層應(yīng)是非磁性的。
二、基體
1．對(duì)于本儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
　　為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體與待測(cè)試件基體上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
2．如果待測(cè)試件的基體金屬厚度沒(méi)有超過(guò)參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：
1）在與待測(cè)試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；
2）用一足夠厚度的，電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
3．如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。
三、校準(zhǔn)方法
本儀器有兩種測(cè)量中使用的校準(zhǔn)方法：零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。
1．零點(diǎn)校準(zhǔn)
a．在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，儀器顯示　×.×μm　。
b．按一下“ON/C”鍵，屏顯　0.00μm　即完成零點(diǎn)校準(zhǔn)。
c．要準(zhǔn)確地校準(zhǔn)零點(diǎn)，須重復(fù)上述a、b以獲得基體測(cè)量值小于1μm，這樣有利于提高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。
2．二點(diǎn)校準(zhǔn)
a．先校零點(diǎn)（見上）。
b．在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示
　×××μm　。
c．用▲或▼鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)片上的標(biāo)稱值。校準(zhǔn)已完成，可以開始測(cè)量了。如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)，可重復(fù)b、c過(guò)程，以提高校準(zhǔn)的精度，減少偶然誤差。
3．在噴沙表面上的校準(zhǔn)
噴沙表面的特性導(dǎo)致了測(cè)量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。
a．儀器要用三、1.或三、2.的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。
b．在未涂覆的經(jīng)過(guò)同樣噴沙處理的表面測(cè)量10次左右，得到平均值Mo。
c．然后，在已涂覆的表面測(cè)量10次得到平均值Mm。
d．（Mm-Mo）±S即是覆蓋層厚度。其中S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是SMm和SMo中較大的一個(gè)。
4．儀器的基本情況
在下述情況下，改變基本校準(zhǔn)是有必要的：
――測(cè)頭頂端被磨損；
――測(cè)頭修理后；
――特殊的用途
在測(cè)量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn)，稱為基本校準(zhǔn)。
通過(guò)輸入6個(gè)校準(zhǔn)值（一個(gè)零值和五個(gè)厚度值）可重新校準(zhǔn)測(cè)頭。
基本校準(zhǔn)方法如下：
a．在儀器關(guān)閉狀態(tài)下按住▼鍵再按“ON/C”鍵開機(jī)，隨著一聲鳴響即進(jìn)入基本校準(zhǔn)方式。屏幕顯示如下　B-Calibrate　。
b．先校零值（見零點(diǎn)校準(zhǔn)）。可連續(xù)重復(fù)多次，以獲得一個(gè)多次校準(zhǔn)的平均值，這樣可提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。
c．使用標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序做五個(gè)厚度的校準(zhǔn)（見二點(diǎn)校準(zhǔn)中的b、c）。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的1.6倍以上，理想的情況是2倍。例如：50、100、200、400、800μm。最大值應(yīng)接近、但低于測(cè)頭的最大測(cè)量范圍。

作者: stoney 時(shí)間: 2011-5-6 10:44
一般用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片

作者: 深水炸彈 時(shí)間: 2011-6-7 19:54
什么牌子的，國(guó)產(chǎn)的網(wǎng)上有。

作者: danni 時(shí)間: 2011-6-28 18:45
謝謝了，已經(jīng)知道怎么校準(zhǔn)了。我們公司有2個(gè)國(guó)產(chǎn)，另2個(gè)是飛希爾的

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