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標題: 晶振測試儀GDS-80晶體阻抗計 [打印本頁]

作者: gzzhydz 時間: 2023-8-28 10:04
標題: 晶振測試儀GDS-80晶體阻抗計
晶振測試儀GDS-80系列
一、產(chǎn)品簡介
晶振測試儀GDS-80系列是高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用網(wǎng)絡分析技術，實現(xiàn)智能化測量，符合IEC-444標準。測量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz，附USB接口進行數(shù)據(jù)通迅。
晶振測試儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能，負載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡分析技術運算克服了市場上晶振測試設備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。
依據(jù)標準：
SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型網(wǎng)絡零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第一部分：用π型網(wǎng)絡零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》；
SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型網(wǎng)絡零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第二部分測量石英晶體元件動態(tài)電容的相位偏置法》；
GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡分析技術和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法》；

二、主要技術指標
1. 中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設定
2. 掃描范圍：±1000ppm（默認±400ppm）
3. 負載電容：1-100P 任意設定
4. 串聯(lián)諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認±400ppm）  測量精度：±5ppm
5. 串聯(lián)諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）
10KHz-200KHz：10K-300K  （2±10%*R KΩ）
6. 負載電容CL測量范圍：1-200PF
7. 時基誤差：±1ppm
8. 負載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts
9. 配件：插件式100歐π網(wǎng)絡測試座（標配），貼片式100歐π網(wǎng)絡測試座（選配），插件式表晶測試座（選配），貼片式表晶測試座（選配），2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件（選配），通信軟件（僅GDS-80P/S）。

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