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計量論壇

標題: 塞尺內校? [打印本頁]

作者: 迷茫 時間: 2007-4-24 19:07
標題: 塞尺內校?
塞尺能用千分尺內校嗎?

作者: lahel 時間: 2007-4-24 20:42
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作者: duomeiti 時間: 2007-4-24 20:43
標題: 回復 #1 迷茫的帖子
采用臥式測長儀直接檢定。在保證準確度的情況下，也可用立式光學計和杠桿齒輪比較儀等儀器，用量塊作標準進行檢定。

作者: changjing 時間: 2007-4-24 21:10
標題: 回復 #2 lahel 的帖子
哪里來的5~10倍的原則？
以前倒是有一種3~10倍的原則。呵呵:D

作者: changjing 時間: 2007-4-24 21:11
我們塞尺用0.001的千分尺檢測。

作者: duomeiti 時間: 2007-4-24 22:31
標題: 回復 #5 changjing 的帖子
用千分尺檢測是面對面接觸，會出現測量誤差。按規程檢定，測頭和被測面是點面接觸。

[ 本帖最后由 duomeiti 于 2007-4-24 22:32 編輯 ]

作者: 往事隨風 時間: 2007-4-25 02:51
樓上的說的很正確 :lol

作者: xielong 時間: 2007-4-25 09:21
呵呵，我公司也是用千分尺檢塞尺的，還用的是三豐的，說三豐的精度高，郁悶啊！:L

作者: changjing 時間: 2007-4-25 12:54
標題: 回復 #6 duomeiti 的帖子
我們不搞塞尺檢定，現場都是鑄件生產測平面度使用，粗得很，所以我們是企業自己檢測，數據差的多了就報廢，換新的。當易耗品呵呵
檢定收費按片算，太貴啦，不劃算，哈哈。

作者: 迷茫 時間: 2007-4-25 13:12
送檢太貴,但測量特殊特性只能內校了.用千分尺內校這內校規程該怎么寫呢?誤差多少能判合格呢?

作者: freshhand 時間: 2007-4-25 13:15
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作者: duomeiti 時間: 2007-4-25 13:20
標題: 回復 #9 changjing 的帖子
我雖然會檢定，但是嫌麻煩（一把塞尺17片，一片檢7點。），大部分只是出證。折痕和銹蝕厲害的塞尺就報廢。

作者: changjing 時間: 2007-4-25 17:13
標題: 回復 #12 duomeiti 的帖子
出證收費不？
如此說來，我就更加的要堅持不送檢了。呵呵

作者: changjing 時間: 2007-4-25 17:17

原帖由迷茫于 2007-4-25 13:12 發表
送檢太貴,但測量特殊特性只能內校了.用千分尺內校這內校規程該怎么寫呢?誤差多少能判合格呢?

參考檢定規程，外觀檢查等可以照抄，檢測方法要自己寫（也參考規程，將設備改了，測量點數改了），允許誤差可以抄規程，也可以按照自己的實際要求來寫，不過要有依據。

作者: duomeiti 時間: 2007-4-25 21:02
標題: 回復 #13 changjing 的帖子
檢定費、調修費各10元。他們送檢只是為了一個證。;P :lol

作者: duomeiti 時間: 2007-4-25 21:15
標題: 回復 #10 迷茫的帖子
塞尺用千分尺檢測，精度達不到，還會出現測量誤差（應該是點面接觸）。檢測誤差的多少不能判是否合格。

作者: 迷茫 時間: 2007-4-26 16:07
那有沒有比較簡便的方法能內校塞尺呢?

作者: changjing 時間: 2007-4-26 16:24
標題: 回復 #17 迷茫的帖子
其實用立光計也不復雜，只是有些企業沒有立光計，沒必要為了檢塞尺買立光計的。我們有立光計，但是我們的塞尺要求比較粗，沒必要用立光計，所以用了0.001的千分尺。
如果你們要求比較嚴格，就應該按照先行者大哥的話來做了。

作者: duomeiti 時間: 2007-4-26 23:35
標題: 回復 #18 changjing 的帖子
我完全贊同你的說法:D

作者: tzjjy 時間: 2008-9-2 10:25
參考檢定規程，外觀檢查等可以照抄，檢測方法要自己寫（也參考規程，將設備改了，測量點數改了），允許誤差可以抄規程，也可以按照自己的實際要求來寫，不過要有依據。

作者: junz0609 時間: 2008-9-2 10:36
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作者: duomeiti 時間: 2008-9-2 10:53
標題: 回復 21# junz0609 的帖子
違章操作。

作者: august 時間: 2008-9-2 12:55
難道大家沒有看過塞尺的檢定規程？千分尺和測長儀是一個等級的嗎？規程寫者是有道理的！

作者: tqxy 時間: 2008-9-2 17:51
關鍵在于你們那塞尺要求使用的精度怎么樣，如果產品公差在1個絲以上的話勉強可以，需要校準過的千分尺，而且要使用量塊做對比，在塞尺上均勻取校準位置，并且取最大的誤差作為該塞尺的示值誤差。

作者: tqxy 時間: 2008-9-2 17:53
還應有個要求，最大誤差與最小誤差的差值不應該超過產品公差的1/3.

作者: 吉利阿友 時間: 2008-9-2 20:00
標題: 回復 24# tqxy 的帖子
你說：使用量塊做對比．請教：１ｍｍ以下的塞尺片用什么樣的量塊做比對？

作者: 舒凌 時間: 2008-9-3 21:46
用千分尺校驗塞尺是不行的，正如六樓所說，面檢面是不能準確判斷出塞尺的誤差的，可用立式光學計校準，也可用其他點式接觸的測量儀器校準。

作者: zhaoyan 時間: 2008-9-10 21:34
標題: 回復 1# 迷茫的帖子
用立式光學計和測長儀直接檢定。

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