游標(biāo)卡尺測(cè)量面的平面度用光隙法?

我在通用卡尺的檢定規(guī)程里看到說(shuō)用光隙法測(cè)量面的平面度,可沒(méi)說(shuō)這怎樣算呀!是否有專業(yè)的書類的說(shuō)明,各位請(qǐng)教了.

以前師傅說(shuō)過(guò)，用光隙發(fā)的看兩尺縫之間是否有“紅藍(lán)光”如有則平面度在6um以下。
只是師傅的經(jīng)驗(yàn)之談，好想沒(méi)什么書籍說(shuō)明。如果誰(shuí)有的話，請(qǐng)奉獻(xiàn)一下！

光隙法和干涉法：http://m.dy313.com/viewthread.p ... E6%B3%95&page=1
光隙法：http://m.dy313.com/viewthread.p ... 9%E9%9A%99%E6%B3%95

謝謝!學(xué)到不少,但是不是此類只有經(jīng)驗(yàn)之談,有沒(méi)有更權(quán)威的資料呢?

有關(guān)長(zhǎng)度計(jì)量檢定的書籍上有。

我也想知道哦。哪里有？

透白光就不行，只要透彩光就好了

用二級(jí)量塊與直徑60mm（或以上）的平面平晶組成標(biāo)準(zhǔn)光隙進(jìn)行對(duì)比。
量塊研合在平晶工作面上（不能出現(xiàn)有色彩的光斑或條紋），用檢定光隙量的刀口尺擱在等高量塊上，在平行縫隙的光源照射下用眼睛在平行縫隙方向觀察到的光隙作為標(biāo)準(zhǔn)光隙，與被檢光隙對(duì)比來(lái)確定是否合格（被檢光隙小于標(biāo)準(zhǔn)光隙時(shí)為合格）。

你可以取一下標(biāo)準(zhǔn)光隙，對(duì)光隙有一個(gè)了介，注意這用刀口尺檢定平面度，如果是兩工作面的合并間隙就不同了