GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GJB 128A-1997
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法
【 英文名稱 】 Test methods for semicondctor discrete devices
【 發(fā)布單位 】 電子工業(yè)部
【 批準(zhǔn)單位 】 國防科學(xué)技術(shù)工業(yè)委員會(huì)
【 發(fā)布日期 】 1997-05-23
【 實(shí)施日期 】 1997-12-01
【 開本頁數(shù) 】 254P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GJB 128-1986
【 起草單位 】 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【 起 草 人 】 王長(zhǎng)福等