JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗(yàn)方法

【 標(biāo)準(zhǔn)編號 】 JB/T 9352-1999
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 透射電子顯微鏡 試驗(yàn)方法  
【 英文名稱 】 Test method for the transmission electron microscope
【 發(fā)布單位 】 國家機(jī)械工業(yè)局
【 批準(zhǔn)單位 】 國家機(jī)械工業(yè)局
【 發(fā)布日期 】 1999-8-10
【 實(shí)施日期 】 2000-1-1
【 開本頁數(shù) 】 10P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 ZB N30 007-88
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 7667-1996; JB/T 9351-1999
【 起草單位 】 上海電子光學(xué)技術(shù)研究所; 上海光學(xué)儀器研究所