一個簡單實際的問題

檢定規程是不是需要經常更新?是不是必須按照規程的所用標準器檢驗?
例如:最近檢驗平晶中,規程里說用等厚干涉儀,可這東西現在就沒了.
什么小角度檢查儀, 立式光學計,只能在2手閑置設備里找了.
請問是不是可以用別的精度一樣或者高于的標準器檢.
還用卡尺規程里說要用塊規檢那幾個受檢查點,可我沒有那受檢點的塊規,我檢別的受檢點可以嗎?

請有識人正確指導

1.規程經常更新，必須按照規程
2.怎么會沒了？只能說你沒問對人
3.如果是檢定必須按照溯源圖，校準可以用更高的儀器
4.檢定必須按照那幾個點進行，校準可以使用你說的方法

我們公司就沒有買 那個卡尺校準專用的量塊，我們內校卡尺時根據自己公司制定的校準引檢查5，50，100，150MM等受檢點。

我們現在要檢查平晶,可規程上說要用等厚干涉儀,我找了很久,只有2手設備,且不保證能用,
其中有個進口設備,請大家看能檢查平晶嗎?是否符合規程

必須按照規程來檢呀，要不然國家還編寫那么多規程做什么。
不過到于說檢卡尺，我認為如果沒有合適的量塊，可以用2等以上的量塊組合來使用。
卡尺的分度值一般都是0.01或0.02的。用組合量塊來檢應該是可以的。

這么說檢查平晶一定要用的等厚干涉儀,可這東西哪有賣的?急

請上帝來解答下,如果我買來2手的等厚干涉儀,又用什么來檢定呢,
直接說我的困惑吧,我手上有標準平晶,怎么去做下級傳遞,
規程上說用等厚干涉儀加標準平晶,看了N遍規程,徹底昏了,


里面的b/a間距的值是用什么測量,

原帖由 chillixie 于 2009-2-18 22:32 發表
我們公司就沒有買 那個卡尺校準專用的量塊，我們內校卡尺時根據自己公司制定的校準引檢查5，50，100，150MM等受檢點。

呵呵，你這哪里是在檢游標卡尺啊，明明是在檢鋼直尺呀！因為你是在檢卡尺的尺身刻度示值誤差。游標的示值誤差、游標和主尺組合起來的綜合示值誤差，你并沒有檢啊。我承認你們的卡尺受檢點把主尺刻度進行了均勻分布，可是游標呢，也必須均勻分布。不一定按卡尺檢定規程推薦的受檢點檢定，但是均勻分布的原則是不能違背的。

當然你不一定非得要選擇檢定規程規定的儀器，但是選擇其他的儀器，其功能和準確度（最大允許誤差）必須不低于檢定規程規定的儀器要求。所以你可以選擇等厚干涉儀、等傾干涉儀、邁克耳孫干涉儀等等，不過我覺得相比之下好像等厚干涉儀便宜并好操作。如果你買到了等厚干涉儀，它就是你的計量標準組成部分之一，你沒有權利對它執行檢定，因為不符合量值溯源的規則。所以不用考慮它的檢定方法問題，由你的上級計量技術機構去考慮吧。我們的是由中國計量測試技術研究院負責檢定。

量值傳遞是科學嚴謹的,規程中寫的等厚干涉儀這個標準器械,市場上幾乎絕跡,什么等傾,邁而遜都不好找,這樣我又怎么開展平晶檢定工作,這里我是想問下大家是否有一種常見標準器械,而且規程認可的東西,僅此而已.