關于量塊平面度檢定的具體操作

最近在檢量塊平面度的時候，發(fā)現(xiàn)很難檢好。兩個問題：一、小平面度的時候，把平面平晶和量塊表面形成小空隙，測量干涉帶彎曲度，我們手工操作，很難很難保持住干涉條紋，手一抖，就沒了，或者條紋就變化了。不知道大家都是怎么操作的？？有沒有好的方法或者專用夾具？二、大平面度的時候，把平面平晶和量塊測量面接觸，把一條干涉條紋中線與量塊距邊緣0.8mm處重合，然后數(shù)干涉條紋個數(shù)，再計算。我們在操作的時候，發(fā)現(xiàn)有時候干涉條紋是斜的，跟量塊的棱邊并不平行。有時候條紋是平行于棱邊了，但是無法操作調(diào)整到其中一條干涉條紋的中線與0.8mm邊緣重合，而且，只要一動平晶，干涉條紋的個數(shù)就會產(chǎn)生大的變化。到底怎么樣才算是接觸合適的？要知道，量塊的研合性檢定中，可是能把干涉條紋給研合到?jīng)]有的。我們做過試驗，拿起平晶再放到量塊上，每次出現(xiàn)的干涉條紋都有變動，如果手一動平晶，一不小心，條紋就變得很少很少了，都可以趕上研合性的檢定了。
到底量塊平面度的檢定，有無一個好的標準？具體操作怎么才能保證精度？不然的話，只要研合性合格的量塊（干涉條紋為無），豈不是平面度都合格了？？

這個也檢，有病還是找死？

什么是小平面，什么是大平面？量塊的工作面應該是都差不多大呀。
      不過薄量塊（尺寸小于等于2mm）和厚量塊的工作面平面度檢定方法倒是不一樣的。厚量塊就是你說的方法，至于檢定結果重復性差，就需要你多多進行基本功訓練。
      薄量塊則非常容易彎曲變形，這種彎曲變形量檢定規(guī)程并沒有規(guī)定，因此檢定其平面度時，就應該防止檢定中平晶與其接觸時壓力的變化產(chǎn)生的變形。
      你可以將薄量塊變?yōu)楹窳繅K，方法是將其研合在具有良好平面度的一個10mm左右的厚量塊工作面上，然后再檢其平面度。這個10mm左右的量塊可以用一個報廢的量塊經(jīng)修理，平面度達到要求即可。

我覺得研合性好的話，基本上都應該合格~~ 但是沒做過實驗，評感覺~~ 呵呵
個人認為，檢平面度的時候不用看的那么仔細，彎曲度不大，條紋之間的距離大的時候就很好的，不用非得算出來多少吧~~
倒是有個問題想請教您~~ 在研究規(guī)程的時候,檢平面度的那個注釋（注：在對弓形的干涉條紋引線讀取彎曲度時，應注意到所引的弦線必須通過干涉條紋的中線與量塊測量面上距側面0.8mm并與側面相平行的線的相交點）這句話里面的“弦線”和“中線”到底是哪條搞不清楚啊。。。我覺得圖9里面的虛線是“中線”，“弦線”應該就是弧（干涉條紋）上距兩邊緣0.8mm處連接的那條直線。
但是如果按我這樣的理解，7.3.5.3那個定義就看不懂了...."其中一個干涉條紋的中線與量塊測量面上距左側面0.8mm的平行線相重合。。。讀出第N條中線向右到測量面上距量塊右側面0.8mm之間的距離m/M”
附了這張圖片，不知能否看清~~ 請您幫我解答解答，先謝謝拉~~