5170系列環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法08版好像不適用了

由于我們公司檢定依據(jù)文件更新有點(diǎn)滯后，這星期才拿到2008版電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法系列，我原來檢環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備都是依據(jù)此規(guī)程，但看了下發(fā)現(xiàn)變化很大，計(jì)算溫濕度波動(dòng)度及溫濕度勻均性方法都發(fā)生了變化，JJF 1101-2003定義都不一樣，而且采樣次數(shù)也不一樣，原來是30min每2min采取一次共15組數(shù)據(jù)，現(xiàn)在改為30min每1min采樣一次，共30組數(shù)據(jù)。個(gè)人感覺沒這個(gè)必要吧，覺得08版的很不適用了，下次檢測(cè)環(huán)境試驗(yàn)箱只得依據(jù)JJF 1101-2003。大家有什么看法呢，你們都依據(jù)哪個(gè)規(guī)程呢？

個(gè)人觀點(diǎn)：
若你們申請(qǐng)烘箱是檢測(cè)項(xiàng)目，可使用GB、T5170、若申請(qǐng)的是校準(zhǔn)項(xiàng)目則使用JJF1101

JJF1101正在討論中，滯后國(guó)標(biāo)比較正常

以前我公司檢測(cè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備依據(jù)5170系列，沒有建標(biāo)，作為檢測(cè)項(xiàng)目。但現(xiàn)我覺得5170不太適用了，想改用JJF1101，沒建標(biāo)能這樣做嗎？

haha
JJF1101也快改了，不過據(jù)說這次沒計(jì)劃，不過我想快了

304所會(huì)舉行這類培訓(xùn)嗎，

沒有人從正面給予回答呀。

對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的校準(zhǔn)，關(guān)鍵是試樣的技術(shù)要求，依據(jù)這個(gè)要求來做校準(zhǔn)這些設(shè)備。