暗室歸一化場(chǎng)地衰減NSA測(cè)量中不確定度因素的分析

暗室歸一化場(chǎng)地衰減NSA測(cè)量中不確定度因素的分析
  
[摘要]  
在電波暗室的歸一化場(chǎng)地衰減NSA測(cè)量過(guò)程中,各種因素會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果的不確定度產(chǎn)生影響.本文詳細(xì)分析了NSA測(cè)量中的各種影響因素及其不確定度,并給出計(jì)算方法.
[關(guān)鍵詞]  
歸一化場(chǎng)地衰減,不確定度,電波暗室,電磁兼容  
[作者]  
陶洪波,北京郵電大學(xué)電信工程學(xué)院; 李盛,北京郵電大學(xué)電信工程學(xué)院; 苑克龍,北京郵電大學(xué)電信工程學(xué)院; 高攸綱,北京郵電大學(xué)電信工程學(xué)院
[會(huì)議名稱]  
第十二屆全國(guó)電磁兼容學(xué)術(shù)會(huì)議  
[會(huì)議時(shí)間]  
20021001
[會(huì)議地點(diǎn)]  
天津
[主辦單位]  
中國(guó)電子學(xué)會(huì)%中國(guó)通信學(xué)會(huì)  
[會(huì)議分類]  


[母體文獻(xiàn)]  
第十二屆全國(guó)電磁兼容學(xué)術(shù)會(huì)議論文集  
[出版單位]  
中國(guó)電子學(xué)會(huì)  
[出版地]  
北京  
[出版時(shí)間]  
20021001  
[頁(yè)碼]  
256-262
[注釋項(xiàng)]  

[分類]  


[密級(jí)]  

[館藏號(hào)]  
H046550