JJG1104-2015《動態(tài)光散射粒度分析儀檢定規(guī)程》解讀

作　　者：劉俊杰[1] ;邢化朝[2] ;孫帥杰[2] ;張文閣[1] ;胡向軍[1]
機構(gòu)地區(qū)：[1]中國計量科學(xué)研究院; [2]中國石油大學(xué)
摘　　要：一、規(guī)程制定背景 動態(tài)光散射粒度分析儀（DLS）是一種用于測量分散于液體中納米/亞微米顆粒粒徑及粒徑分布的常規(guī)分析儀器,所適用的顆粒粒徑范圍從幾納米至大約1微米或至顆粒開始沉降時的粒徑。該技術(shù)已廣泛應(yīng)用于生物制藥、材料、航空航天、微電子、紡織工業(yè)、機械制造等眾多領(lǐng)域,其測量結(jié)果的準(zhǔn)確性關(guān)系上述領(lǐng)域的技術(shù)及產(chǎn)品發(fā)展,如：在納米器件加工生產(chǎn)中。