SJ/T 10805-2000半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測(cè)試方法的基本原理

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 SJ/T 10805-2000
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測(cè)試方法的基本原理  
【 英文名稱 】 Semiconductor integrated circuits General principles of measuring methods for voltage comparators
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
【 批準(zhǔn)單位 】 中華人民共和國(guó)信息產(chǎn)業(yè)部
【 發(fā)布日期 】 2000-12-28
【 實(shí)施日期 】 2001-3-1
【 開本頁(yè)數(shù) 】 31P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 6798-86
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 SJ/T 10734-96
【 起草單位 】 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
【 起 草 人 】 李燕榮; 崔忠勤