GB/T 15757-2002產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷

【 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào) 】 GB/T 15757-2002
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范(GPS)表面缺陷 術(shù)語、定義及參數(shù)  
【 英文名稱 】 Geometrical Product Specification(GPS)-Surface imperfections-Terms,definitions and parameters
【 發(fā)布單位 】 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
【 批準(zhǔn)單位 】 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
【 發(fā)布日期 】 2002-7-15
【 實(shí)施日期 】 2003-1-1
【 開本頁數(shù) 】 15P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB/T 15757-1995
【 采用關(guān)系 】 ISO 8785-1998,EQV
【 起草單位 】 中國機(jī)械科學(xué)研究院; 時(shí)代集團(tuán)公司; 中國計(jì)量科學(xué)研究院; 北京計(jì)量科學(xué)研究所; 沈陽601所
【 起 草 人 】 王欣玲; 王忠濱; 高思田; 吳迅; 王肇強(qiáng); 趙有祥