GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)業(yè)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)..溫度試驗(yàn)設(shè)備

【 標(biāo)準(zhǔn)編號 】 GB/T 5170.2-2008
【 標(biāo)準(zhǔn)名稱 】 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 
【 英文名稱 】 Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products-Temperature testing equipments
【 發(fā)布單位 】 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)總局
【 批準(zhǔn)單位 】 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)總局
【 發(fā)布日期 】 2008-06-16
【 實(shí)施日期 】 2009-03-01
【 開本頁數(shù) 】 13P
【 替代標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 5170.2-1996
【 引用標(biāo)準(zhǔn) 】 GB 2421;idt IEC 60068-2:1988
【 起草單位 】 電子工業(yè)部第五研究所
【 起 草 人 】 伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國光。 [ 本帖最后由 兌水 于 2009-1-15 11:13 編輯 ]