論“計量是統(tǒng)計測量”

-
                                          論“計量是統(tǒng)計測量”            
-
                                                                                                                 史錦順
-
（一）兩類測量區(qū)分的標(biāo)準(zhǔn)          
       在測量計量領(lǐng)域中，無論是理論研究還是實(shí)際操作，都必須區(qū)分兩類測量。其核心思想是對象與手段的區(qū)分。
       兩類測量區(qū)分的意義是明確如下諸點(diǎn)：該用哪個σ，即該不該除以根號N；能不能剔除異常數(shù)據(jù)；怎樣選取測量儀器；測得值表征量屬于對象還是手段。
-
       若著眼點(diǎn)是對象的問題，表征量歸屬于對象，稱為統(tǒng)計測量。統(tǒng)計測量的條件是：
                    Δ(手段) ＜＜ Δ(對象)                                                                      （1）
       若著眼點(diǎn)是手段的問題，表征量歸屬于手段，稱為基礎(chǔ)測量。基礎(chǔ)測量的條件是：
                    Δ(對象) ＜＜ Δ(手段)                                                                      （2）
       Δ指變化量或誤差范圍的指標(biāo)值（二者中取大者）。
-
      （1）（2）是測量計量劃分兩類測量的一般標(biāo)準(zhǔn)、通用標(biāo)準(zhǔn)。
-
       測量，以認(rèn)識量值為目的。在測量中，對象是被測量，測量儀器是手段。Δ(對象)是被測量的變化，記為Δ(物)；Δ(手段)是測量儀器的誤差，記為Δ(儀)。
       測量中的基礎(chǔ)測量條件具體化為：
                    Δ(物) ＜＜ Δ(儀)                                                                           （3）
       測量中的統(tǒng)計測量條件具體化為：
                    Δ(儀) ＜＜ Δ(物)                                                                           （4）
-
（二）計量是統(tǒng)計測量        
       計量的對象是測量儀器。考察的是儀器的誤差值。由于計量中所用的標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值是已知的，標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍是可略的，于是可以用標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值來代表標(biāo)準(zhǔn)的真值。
-
       儀器的誤差元等于儀器示值減真值。計量場合真值已知，研究誤差，就是研究儀器的示值。
-
       儀器誤差是示值與真值之差，即“真誤差”；人們得到的是示值與標(biāo)稱值之差，稱“視在誤差”，視在誤差與真誤差之差，是計量誤差。計量誤差范圍等于所用標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍R(標(biāo))。計量的必要條件是R(標(biāo))可略。設(shè)被檢儀器的誤差范圍指標(biāo)值為R(儀)，層次比q=R(標(biāo))/R(儀)，q越小越好，通常要求q≤1/4，時頻計量要求q≤1/10.
-
       由于標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍可略，于是可用標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值來代表真值。就是用視在誤差來代表誤差（真誤差）。
-
       誤差有兩部分，一部分在重復(fù)測量中不變，這是系統(tǒng)誤差；一部分在重復(fù)測量中變化，這是隨機(jī)誤差。測量儀器的隨機(jī)誤差，表現(xiàn)為儀器示值有隨機(jī)變化。
-
       儀器的示值，在重復(fù)測量中變化，是隨機(jī)變量。通常，將示值代入貝塞爾公式計算，求σ，求σ(平)，這都是把儀器示值當(dāng)隨機(jī)變量來處理。
-
       被檢儀器的示值是準(zhǔn)隨機(jī)變量（大的常值上有小的隨機(jī)變量），對準(zhǔn)隨機(jī)變量的測量定義為“統(tǒng)計測量”。因此說：“計量是統(tǒng)計測量”。
-
       在計量場合，對象是被檢測量儀器，而手段是計量標(biāo)準(zhǔn)。計量標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)必須遠(yuǎn)小于被檢儀器的指標(biāo)，符合條件（1），因此，計量是統(tǒng)計測量。計量與測量的對象與手段有原則性不同，判別計量是哪類測量，不能用測量場合的特定條件（3）與（4），而必須用通用條件（1）與（2）。
-
（三）計量的數(shù)據(jù)處理方式      
       1 計量中的嚴(yán)格的定量計算   
       設(shè)標(biāo)準(zhǔn)的真值為Z，標(biāo)稱值為B，儀器示值為Mi，測量次數(shù)為N。
       1.1 求平均值M(平)
                      M(平) = (∑Mi)/√N(yùn)                                                                        （5）
       1.2 按貝塞爾公式計算實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)偏差σ。σ是統(tǒng)計變量的單值分散性的表征量，記為σ(單)。
       1.3 求平均值的σ(平)
                      σ(平) = σ/√N(yùn)                                                                                （6）
       1.4 求測量點(diǎn)的系統(tǒng)誤差
                    R(系)=│M(平)－B│                                                                          （7）
       1.5 平均值的隨機(jī)誤差是3σ(平)
       1.6 被檢測量儀器示值的隨機(jī)偏差是3σ
       1.7 被檢測量儀器的誤差范圍由系統(tǒng)誤差R(系)、確定系統(tǒng)誤差時的測量誤差3σ(平)與示值的隨機(jī)誤差3σ合成。因有第3項，第二項可略。因系以標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值為參考得出，稱其為誤差范圍實(shí)驗(yàn)值，記為
                    R(實(shí)驗(yàn))= R(系) + 3σ                                                                        （8）
       1.8 被檢測量儀器的誤差范圍（以真值為參考的真誤差范圍）
                    R = R(實(shí)驗(yàn)) + R(B)
                       = R(系) + 3σ+R(B)                                                                         （9）
       R(B)是所用標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍。因?yàn)檎`差范圍定義為誤差元的最大可能值，故（8）（9）式都取加號。
-
       2 計量中嚴(yán)格的合格性判別         
       被檢測量儀器的誤差范圍R不大于儀器的指標(biāo)值，合格。
                    R ≤ R(儀)
                   R(實(shí)驗(yàn)) + R(B) ≤ R(儀)
                   R(實(shí)驗(yàn)) ≤ R(儀) – R(B)                                                                    （10）
                   R(系) + 3σ ≤ R(儀) – R(B)                                                               （11）
                   │M(平)– B│ +3σ ≤ R(儀) – R(B)                                                       （12）   
-
       誤差范圍是誤差元絕對值的最大可能值，因此計量時要找誤差元的最大可能值。（10）中R(實(shí)驗(yàn))是一個測量點(diǎn)上的誤差最大可能值（統(tǒng)計方法用3σ）。注意，測量儀器的誤差范圍指標(biāo)是就量程的各個點(diǎn)而言的，因此要找各點(diǎn)的誤差范圍值的最大值。
-
      3 計量中的簡化處理            
       在檢定工作中，為簡化計算，可采用如下計算與判別方式：設(shè)Δ是儀器測得值與標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)稱值之差，若
                    │Δ│max ≤ R(標(biāo)稱) – R(B)                                                               （13）
則儀器合格。
-
       為充分顯現(xiàn)誤差元的最大可能值，要根據(jù)測量儀器的特點(diǎn)，合理的設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值。標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值要有足夠的細(xì)度、足夠的量值范圍，合理的分布。檢定中，要有足夠的采樣點(diǎn)，有足夠的測量次數(shù)。要重點(diǎn)針對測量儀器的薄弱點(diǎn)。總的原則是要找到測量儀器誤差的最大可能值。
-
       在上述關(guān)于計量的討論中，核心概念是誤差范圍。因?yàn)橛嬃繄龊嫌杏嬃繕?biāo)準(zhǔn)，誤差元是可以求的，但求誤差元是過渡，最后都要落實(shí)到誤差范圍上。
-
（四）JJF1094-2002《測量儀器特性評定》補(bǔ)充與置疑        
        JJF1094-2002的合格性判別式為
                   │Δ│ ≤  R(標(biāo)稱) – U95                                                                    （14）
       1 補(bǔ)充            
       │Δ│是被檢儀器的示值與標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)稱值之差。測量中，可能只測量一個值，是隨機(jī)選取的，因此它體現(xiàn)了單值的分散性；也可能是多個取值，而要取其中的最大值。各測量點(diǎn)的值不同，要取最大者。│Δ│不能取平均值，因?yàn)槿∑骄档扔谀⒈粰z儀器的隨機(jī)誤差。因此，應(yīng)加最大值符號max，記為│Δ│max。
-
       2 置疑       
       比較判別式（14）與（13）可知,右側(cè)的R(標(biāo))換成了U95，是錯誤的。U95包含了被檢儀器的性能，是不應(yīng)該的。
-
（五）A類不確定度評定的三個弊病           
        1 對統(tǒng)計測量，本應(yīng)是σ(單)而錯誤的用σ(平)。除以根號N是錯誤的。除以根號N的作用，是抹殺隨機(jī)變量的變化特性。
-
       在統(tǒng)計測量中，隨機(jī)變量的偏差這個隨機(jī)變量，本來是一個常值加一個可正可負(fù)、可大可小的隨機(jī)值，偏差元d與偏差范圍D應(yīng)為
                    d = r(平) ± 3σ
                    D = D(系) + 3σ
       其中
                    D(系)=│M(平)– L(標(biāo))│+3σ(平)
       有
                    D=│M(平)– L(標(biāo))│+3σ(平) + 3σ

       D(系)是測量儀器示值的平均值與標(biāo)稱值之差的絕對值，稱系統(tǒng)偏差范圍。
       不確定度的A類評定，把3σ丟掉，實(shí)際是將D代換成D(系)，這是不對的。這大大降低了被測量客觀存在的分散性。
-
       2 對基礎(chǔ)測量，隨機(jī)誤差由測量儀器引起。測量儀器的誤差范圍為
                    R(儀)= R(系)+3σ
        R(系)只在有計量標(biāo)準(zhǔn)的場合，即計量場合才能確定。因此在測量場合，A類評定不能完成獨(dú)立的評定。由此，不確定評定，不能沒有B類評定，而B類評定中的“說明書
規(guī)格”中，已包含儀器的隨機(jī)誤差范圍。A類評定，重計了。也就是說，對基礎(chǔ)測量來說，A類評定是多余的。
-
       3 評定檢定的誤差與檢定裝置的檢定能力，錯誤地加進(jìn)被檢儀器的性能。居然出現(xiàn)用銫標(biāo)準(zhǔn)檢定不了通用頻率計的怪事。錯誤理論，危害大矣！   
       不確定度論的錯誤，產(chǎn)生的根源之一是不能區(qū)分兩類測量，沒有認(rèn)識到計量是統(tǒng)計測量。
-
(六) 明確“計量是統(tǒng)計測量”的意義                       
        1 計量中不能剔除異常數(shù)據(jù)。有異常數(shù)據(jù)，要找到原因，是被檢儀器的問題，就判定儀器不合格。是檢定裝置或環(huán)境條件的原因要改進(jìn)。在沒有異常數(shù)據(jù)的條件下，才能給出檢定結(jié)果。
        2 要找被檢儀器示值變化的最大可能值。因?yàn)闇y量儀器的隨機(jī)誤差的表征量是σ(單)，而不是σ(平)。
        3 計量標(biāo)準(zhǔn)在檢定中是手段，手段的因素必須可以忽略。檢定必須用夠格的計量標(biāo)準(zhǔn)。
        4 必須區(qū)分手段與對象，不能把對象的問題錯賴在手段上。要抵制不確定度評定的錯誤作法。評定檢定裝置的檢定能力，不能把被檢儀器的性能計入。合格判別的U95的評定，包含有被檢儀器的因素，不對；要把U95換成標(biāo)準(zhǔn)的誤差范圍R(標(biāo))。
-
-
       筆者提出“計量是統(tǒng)計測量”，反對者甚多。確實(shí)，理解這個問題有一定難度。但老史確信：贊成者會越來越多。是金子，總會發(fā)光。是真理，就不怕被人反對。希望一時還反對這個論點(diǎn)的網(wǎng)友，仔細(xì)思考一下，不要輕率地排斥新學(xué)說。需知，真知灼見是抹殺不了的，真理是壓制不住的！
-
-

看了先生的很多文章，對先生說的東西也非常贊同
前些日子看了一部電影，結(jié)尾，主角推翻了所有的概念，認(rèn)為目前的概念都是錯誤的。我十分的贊同~！電影的名稱《超體》
推薦先生有空的時候看看。

      您自己定義的統(tǒng)計測量的條件是：
             Δ(手段) ＜＜ Δ(對象)       （1）
             Δ(對象)是被測量的變化，記為Δ(物)；Δ(手段)是測量儀器的誤差，記為Δ(儀)。
      測量中的統(tǒng)計測量條件具體化為：
             Δ(儀) ＜＜ Δ(物)           （2）
       且不說您對統(tǒng)計測量的定義是否科學(xué)。
       您斷定計量（檢定或校準(zhǔn)）是統(tǒng)計測量        
       請問檢定/校準(zhǔn)一個砝碼或標(biāo)準(zhǔn)電阻，在檢定/校準(zhǔn)的過程中是否可以認(rèn)為砝碼或標(biāo)準(zhǔn)電阻的量值保持不變，即Δ(物)認(rèn)為等于零，而Δ(儀)是不可能認(rèn)為等于零的，這樣（1）和（2）式能成立嗎？能是您定義的統(tǒng)計測量嗎？您怎么自己給出的定義自己都不會用呢？您硬將Δ(物) 理解成被檢定/校準(zhǔn)對象的誤差，請問量的變化和誤差是一回事嗎？不要覺得否認(rèn)了這一點(diǎn)會動搖您的許多觀點(diǎn)，要知道這點(diǎn)事是很好理解的，您不承認(rèn)并不影響大家的判斷。
       您還認(rèn)為計量（檢定或校準(zhǔn)）是統(tǒng)計測量嗎？

　　史老師說：若著眼點(diǎn)是對象的問題，表征量歸屬于對象，稱為統(tǒng)計測量。統(tǒng)計測量的條件是：Δ(手段)＜＜Δ(對象)   (1)
　　用光學(xué)計檢定光滑量規(guī)，光滑量規(guī)是實(shí)物量具被測量的變化Δ(對象)→0，光學(xué)計的誤差Δ(手段) 將大于Δ(對象)，而不滿足公式(1) Δ(手段)＜＜Δ(對象)，這個檢定（史老師說的計量）還能夠說是“統(tǒng)計測量”嗎？計量檢定和校準(zhǔn)活動中類似于這樣的例子還有許多，因此用公式(1)斷定“計量是統(tǒng)計測量”需要慎重。
　　史老師還說：若著眼點(diǎn)是手段的問題，表征量歸屬于手段，稱為基礎(chǔ)測量。基礎(chǔ)測量的條件是：Δ(對象)＜＜Δ(手段)  (2)
　　用量塊測量百分表的示值誤差，量塊的誤差Δ(手段)→0， 被測量百分表的示值誤差變化Δ(對象)將大于Δ(手段)，而不滿足公式(2) Δ(對象)＜＜Δ(手段)，這個測量還能夠說是“基礎(chǔ)測量”嗎？同樣類似于這樣的例子也很多，因此由公式(2)斷定某項測量屬于基礎(chǔ)測量也需慎重。

規(guī)矩灣錦苑 發(fā)表于 2014-11-13 18:37
　　史老師說：若著眼點(diǎn)是對象的問題，表征量歸屬于對象，稱為統(tǒng)計測量。統(tǒng)計測量的條件是：Δ(手段)＜＜Δ ...

您前半部分關(guān)于統(tǒng)計測量的反駁是對的，但是后半部分關(guān)于基礎(chǔ)測量的反駁是錯誤的。請再斟酌。

　　未明白你說的錯在何處，如果略作補(bǔ)充修正，你看如何？
　　史老師還說：若著眼點(diǎn)是手段的問題，……，稱為基礎(chǔ)測量。基礎(chǔ)測量的條件是：Δ(對象)＜＜Δ(手段)  (2)
　　用量塊測量百分表的示值誤差，因量塊按等使用，使用的是實(shí)際值“名義值＋偏差（相當(dāng)于修正值）”，因此量塊的誤差Δ(手段)將小于1μm→0。 被測量（百分表的示值誤差）的變化Δ(對象)將可能相當(dāng)大（規(guī)程規(guī)定示值重復(fù)性3μm或示值漂移一個分辨力10μm），明顯大于Δ(手段)，而不滿足公式(2) Δ(對象)＜＜Δ(手段)，這個測量還能夠說是“基礎(chǔ)測量”嗎？同樣類似于這樣的例子也很多，因此由公式(2)斷定某項測量屬于基礎(chǔ)測量也需慎重。

史老又發(fā)表論文了，恭喜！

-
                     關(guān)于“計量是統(tǒng)計測量”的答辯(1)               
-
                                                                                                                                          史錦順      
-
       都成說規(guī)矩灣的帖子一半問錯了，把質(zhì)疑變成了證實(shí)。無奈，規(guī)矩灣不解都成的意思，又說了一遍，還是幫史錦順說話。史錦順就只好偷著樂——反對我的觀點(diǎn)，卻在論述我的說法是正確的。我坐享其成了。
-
       規(guī)矩灣說：
       用量塊測量百分表的示值誤差，因量塊按等使用，使用的是實(shí)際值“名義值＋偏差（相當(dāng)于修正值）”，因此量塊的誤差Δ(手段)將小于1μm→0。 被測量（百分表的示值誤差）的變化Δ(對象)將可能相當(dāng)大（規(guī)程規(guī)定示值重復(fù)性3μm或示值漂移一個分辨力10μm），明顯大于Δ(手段)，而不滿足公式(2) Δ(對象)＜＜Δ(手段)，這個測量還能夠說是“基礎(chǔ)測量”嗎？同樣類似于這樣的例子也很多，因此由公式(2)斷定某項測量屬于基礎(chǔ)測量也需慎重。   
-
      【史評】         
       檢定百分表，標(biāo)準(zhǔn)是量塊。量塊是手段，Δ(手段) 很小，百分表是對象，Δ(對象)相當(dāng)大。Δ(手段)＜＜Δ(對象)，滿足公式（1），是統(tǒng)計測量，而不是基礎(chǔ)測量。
       規(guī)矩灣說：用量塊檢定百分表，不滿足條件（2），不是基礎(chǔ)測量；說法正確。
       用量塊檢定百分表，不滿足條件（2），不是基礎(chǔ)測量；不滿足條件（2），而滿足條件（1），因此，用量塊檢定百分表是統(tǒng)計測量。老史的論題是“計量是統(tǒng)計測量”，該項計量是統(tǒng)計測量，這是證明老史論點(diǎn)成立的一個實(shí)例。在計量中，類似的實(shí)例很多。這大量的實(shí)例都證明老史的“計量是統(tǒng)計測量”的判斷成立。
-
       用量塊、砝碼檢定測量儀器，或用標(biāo)準(zhǔn)測量儀器檢定一般測量儀器，Δ(手段)＜＜Δ(對象)，滿足判別公式（1）是統(tǒng)計測量，這一點(diǎn)，應(yīng)該容易達(dá)成共識。難點(diǎn)是：檢定量塊、檢定砝碼，還能說是統(tǒng)計測量嗎？理解這個問題，老史費(fèi)了幾個月的時間，才完成一次認(rèn)識上的飛躍。此點(diǎn)都成質(zhì)疑在前，有又幾位有同樣的質(zhì)疑，老史絕不回避要害問題，一定答復(fù)。只是話要長些，幾乎與我整個學(xué)術(shù)活動史有關(guān)。我將努力交一份經(jīng)得住歷史考驗(yàn)的答卷。因手頭在寫關(guān)于兩個西格瑪?shù)奈恼拢^些日子才能回復(fù)質(zhì)疑者們。只想先交代一句：老史是胸有成竹的。要仔細(xì)研究老史的文章，才能提出有分量的質(zhì)疑。一棵小草，一踩便倒；扳倒一棵樹，就得有足夠的力氣。六年北大的熏陶，十年國家計量院的磨礪，五十二年的理論創(chuàng)新、學(xué)術(shù)論戰(zhàn)的歷史，與八位院士的爭辯，與幾十位教授級學(xué)者的切磋與探討，練就的是辨別是非的識別能力、不畏權(quán)威的置疑精神、不斷提出新見解、新理論乃至新學(xué)說的勇氣。我這里自我表白一通，目的是吸引網(wǎng)友，都來看看老史這篇有新意的文章，對還是不對。不論贊成還是反對，都該認(rèn)真想一想。
-

史錦順 發(fā)表于 2014-11-14 18:08
-
                     關(guān)于“計量是統(tǒng)計測量”的答辯(1)               
-

       看了您的自我介紹，非常敬佩！晚輩有禮了！您的精神可嘉，可咱得說的有道理，不能自己否定自己。
       您在1#的（二）計量是統(tǒng)計測量的后邊寫到：
        “在計量場合，對象是被檢測量儀器，而手段是計量標(biāo)準(zhǔn)。計量標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)必須遠(yuǎn)小于被檢儀器的指標(biāo)，符合條件（1），因此，計量是統(tǒng)計測量。”
       再看看（一）兩類測量區(qū)分的標(biāo)準(zhǔn)是怎么寫的：         
       若著眼點(diǎn)是對象的問題，表征量歸屬于對象，稱為統(tǒng)計測量。統(tǒng)計測量的條件是：
                    Δ(手段) ＜＜ Δ(對象)                                                                      （1）
       測量，以認(rèn)識量值為目的。在測量中，對象是被測量，測量儀器是手段。Δ(對象)是被測量的變化，記為Δ(物)；Δ(手段)是測量儀器的誤差，記為Δ(儀)。
       測量中的統(tǒng)計測量條件具體化為：
                    Δ(儀) ＜＜ Δ(物)                                                                           （4）

        在您的兩類測量區(qū)分的標(biāo)準(zhǔn)中：Δ(對象)是被測量的變化，記為Δ(物)，可是在您判定計量是統(tǒng)計測量時卻把“被檢儀器的指標(biāo)”當(dāng)成了“被測量的變化”，例如將被檢標(biāo)準(zhǔn)電阻、砝碼、電容、電感等量具或儀器的指標(biāo)當(dāng)成了其量值的變化，在檢定過程中量具或儀器的指標(biāo)是可觀的，而其量值的變化是微量的。請問“被檢儀器的指標(biāo)”和“其量值的變化”是一回事嗎？自己下的定義自己不會用了嗎？

         兩個σ的問題1059和1059.1都已說的很清楚，用錯了那是個別使用者的問題，計量是否為統(tǒng)計測量才是關(guān)鍵問題，關(guān)系重大，您還是先來解決這個問題吧。

      

qcdc 發(fā)表于 2014-11-14 22:24
看了您的自我介紹，非常敬佩！晚輩有禮了！您的精神可嘉，可咱得說的有道理，不能自己否定自己。
...

         你自稱“晚輩”，得知你年輕，我好生羨慕。
        兩次發(fā)問，理直氣壯，頗有質(zhì)疑精神。
        關(guān)于“兩類測量”的劃分與“兩個西格瑪”的區(qū)分，哪個分量重的問題，我和你有不同的認(rèn)識。我認(rèn)為后者更重要，因?yàn)檫@涉及測量計量工作的具體的操作、具體的數(shù)據(jù)處理方法。你說對兩個西格瑪?shù)奶幚硪呀?jīng)解決得很好，這表明你在這個問題上，多點(diǎn)迷信，少點(diǎn)質(zhì)疑精神。我正在寫一篇繼續(xù)探討兩個西格瑪區(qū)分的文章，幾天內(nèi)可掛出。請你批評。我的兩類測量劃分的提法，主要是為了便于區(qū)分兩個西格瑪。也有一些其他應(yīng)用，如判別該不該剔除異常數(shù)據(jù)以及該如何選取測量儀器等。
       其實(shí)你還沒進(jìn)入贊成還是反對兩類測量劃分這個本質(zhì)問題，僅僅是在舞弄“以其矛攻其盾”這種邏輯武器。請你注意，我給出的條件（1）是普適的，可以用于測量，也可以用于計量；而僅僅在測量（認(rèn)知量值）的情況下，才可以蛻化為條件（4）.計量時的對象與手段，與測量時的對象與手段截然不同。不能用條件（4）來處理計量的類別劃分問題。計量時的手段問題必須遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于對象的問題，所以我才判斷計量是統(tǒng)計測量。這是符合條件（1）的，并沒有邏輯錯誤。你用測量之矛，攻計量之盾，是因?yàn)槟惆褍深悳y量劃分的不同條件下的不同標(biāo)準(zhǔn)弄混了。一個是普適條件，一個是特定條件，我在文章中是交代過的。你大概沒注意，請你再仔細(xì)看看。

史錦順 發(fā)表于 2014-11-15 07:38
你自稱“晚輩”，得知你年輕，我好生羨慕。
        兩次發(fā)問，理直氣壯，頗有質(zhì)疑精神。
      ...

對于量具的檢定，就是要獲得被檢量具的量值，這和測量一個量具的量值沒有什么區(qū)別，您說的普適條件和特定條件就統(tǒng)一了，只能確定為要么基礎(chǔ)測量要么統(tǒng)計測量，我想咱們確定為基礎(chǔ)測量是沒有疑問的吧！而當(dāng)看做計量時您硬說是統(tǒng)計測量，您的理由就是把“被檢儀器的指標(biāo)”當(dāng)成了“被測量的變化”，這兩個它不是一個東西！像您這樣將“被測的指標(biāo)”和“被測量的變化”相混淆的話，則幾乎所有的測量都將變成統(tǒng)計測量，因?yàn)槿魏涡枰獪y量的量大都會有一個指標(biāo)，我們測量的手段必須要遠(yuǎn)小于這個指標(biāo)，即為統(tǒng)計測量！例如看看查體報告，是不是有指標(biāo)；產(chǎn)品的檢驗(yàn)是不是有指標(biāo)，等等。
您不覺得用了兩種標(biāo)準(zhǔn)嗎？
可以明確的告訴您，雖然在這里跟您討論您的兩類測量，并不是贊成，而是堅決反對這種劃分，關(guān)于測量的分類教科書中給出了很多，都夠用了。您說計量是統(tǒng)計測量，請問檢定時通常測量1次，2次、3次或4次等取平均值即可完事，用了多少統(tǒng)計知識，造詞也要看其內(nèi)涵，如果測量過程并沒有用到統(tǒng)計知識，而說是統(tǒng)計測量，不是很勉強(qiáng)嗎？
史老似乎對檢定量具是否為統(tǒng)計測量避而不談？談?wù)効矗?/font>

qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 12:54
對于量具的檢定，就是要獲得被檢量具的量值，這和測量一個量具的量值沒有什么區(qū)別，您說的普適條件和特定 ...

        史先生的初衷是好的，想避開“概率與統(tǒng)計”的一些似乎有點(diǎn)“深奧”的基本概念，實(shí)用的“界定”什么時候“那個西格瑪要除以根號N“？...只是這確實(shí)有點(diǎn)難度！

     如果稍用一點(diǎn)“概率與統(tǒng)計”的基本概念【要求大家認(rèn)識“隨機(jī)量”的“統(tǒng)計特征值”：諸如“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類】，便無需再費(fèi)十分的精力區(qū)分“基礎(chǔ)測量”與“統(tǒng)計測量”了——

    一個“測量”的測量結(jié)果（測得值）與被測量（被測對象）及測量系統(tǒng)（測量手段）兩方面相關(guān)！ 無論是普通的測量，還是與“計量”活動相關(guān)的特殊測量，對于被測量（被測對象）與測量系統(tǒng)（測量手段）這兩方面，只有在其中一方面特性【諸如“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類的“統(tǒng)計”特征值】已知的前提下，才可能通過測量結(jié)果（測得值）獲得另一方面的特性【諸如“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類的“統(tǒng)計”特征值】。..... 已知測量系統(tǒng)（測量手段）的特性【諸如“測量誤差”的“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類】，才能由測量結(jié)果（測得值）獲得被測量（被測對象）特性【諸如“被測量”的“均值”、“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類】的“最佳估計值”；反之亦然。若是兩者皆茫然，便會是一筆糊涂帳了！

    至于“測量不確定度”引用的那個“西格瑪”是否應(yīng)該除以根號N，或是一個不太難抉擇的事：針對被測量（或“測量系統(tǒng)”的測量誤差）的“均值”，考慮其“測量不確定度”時，相應(yīng)的“西格瑪”應(yīng)考慮除以根號N的問題（也不能閉眼瞎除！實(shí)際情況根本不會滿足“除以根號N的假定條件”！）；而被測量（或“測量系統(tǒng)”的測量誤差）本身“標(biāo)準(zhǔn)偏差”的“最佳估計值”是不應(yīng)該再除以什么根號N的，除非你要考慮它的“測量不確定度”[當(dāng)前似乎尚未‘深入’到這個層次？]。

njlyx 發(fā)表于 2014-11-15 15:19
史先生的初衷是好的，想避開“概率與統(tǒng)計”的一些似乎有點(diǎn)“深奧”的基本概念，實(shí)用的“界定”什 ...

看來您再不確定度評定方面有一定見解。本帖是 ：論“計量是統(tǒng)計測量” ，先不去管別的，問題一個一個地解決。史老師提出了兩類測量及其判定準(zhǔn)則，在多個地方討論過，在這里史老師單獨(dú)討論 “計量是統(tǒng)計測量” ，我們先不說這種提法是否科學(xué)，您覺得計量符合史老師定義的統(tǒng)計測量嗎？是的理由是什么？不是的理由是什么？

qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 16:54
看來您再不確定度評定方面有一定見解。本帖是 ：論“計量是統(tǒng)計測量” ，先不去管別的，問題一個一個地解 ...

         如果贊成史先生分“基礎(chǔ)測量”與“統(tǒng)計測量”的做法（本人并不贊成），那所謂的“統(tǒng)計測量”應(yīng)該是需要獲取相關(guān)“標(biāo)準(zhǔn)偏差”之類“統(tǒng)計特征值”的測量【可能是要獲取被測量的“標(biāo)準(zhǔn)偏差”——對于一般測量或者用“上級標(biāo)準(zhǔn)測量系統(tǒng)”對“下級標(biāo)準(zhǔn)量（器）”實(shí)施量傳“標(biāo)定”、“校準(zhǔn)”、“檢定”之類的“計量”；也可能是某個測量系統(tǒng)（器具）可能產(chǎn)生的測量誤差的“標(biāo)準(zhǔn)偏差”——相應(yīng)于用“標(biāo)準(zhǔn)量（器）”對“測量系統(tǒng)（器具）”實(shí)施量傳“標(biāo)定”、“校準(zhǔn)”、“檢定”之類的“計量”】，在此前提下，說“計量”是“統(tǒng)計測量”或許是“對”的。


      另：即便如此分出了“統(tǒng)計測量”，也免不了獲得相應(yīng)“均值”的“最佳估計值”時，要考慮其“測量不確定度”的“西格瑪除以根號N”的問題！

njlyx 發(fā)表于 2014-11-15 17:19
如果贊成史先生分“基礎(chǔ)測量”與“統(tǒng)計測量”的做法（本人并不贊成），那所謂的“ ...

不必考慮太多，假定史老師的兩類測量是對的，按照其判定標(biāo)準(zhǔn)，先看對標(biāo)準(zhǔn)電阻、電容、電感、砝碼等量具的檢定/校準(zhǔn)、計量是否為統(tǒng)計測量？請回答是還是不是即可。謝謝！

qcdc 發(fā)表于 2014-11-15 17:39
不必考慮太多，假定史老師的兩類測量是對的，按照其判定標(biāo)準(zhǔn)，先看對標(biāo)準(zhǔn)電阻、電容、電感、砝碼等量具的 ...

抱歉！本人未從事過對標(biāo)準(zhǔn)電阻、電容、電感、砝碼等量具的具體檢定/校準(zhǔn)工作，未知詳情，沒有發(fā)言權(quán)。

njlyx 發(fā)表于 2014-11-15 19:16
抱歉！本人未從事過對標(biāo)準(zhǔn)電阻、電容、電感、砝碼等量具的具體檢定/校準(zhǔn)工作，未知詳情，沒有發(fā)言權(quán)。 ...

那好，就您所從事的專業(yè)，計量（檢定/校準(zhǔn)）是符合1#所定義的“統(tǒng)計測量”還是“基礎(chǔ)測量”？

史錦順 發(fā)表于 2014-11-14 18:08
-
                     關(guān)于“計量是統(tǒng)計測量”的答辯(1)               
-

　　您不是說：若著眼點(diǎn)是手段的問題，表征量歸屬于手段，稱為基礎(chǔ)測量。基礎(chǔ)測量的條件是：Δ(對象)＜＜Δ(手段)  (2)嗎？
　　用量塊測量百分表的示值誤差本來是一個測量示例，您看成計量問題，可是我說的計量示例您還沒有回答我：用光學(xué)計檢定光滑量規(guī)，光滑量規(guī)是實(shí)物量具被測量的變化Δ(對象)→0，光學(xué)計的誤差Δ(手段) 將大于Δ(對象)，而不滿足公式(1) Δ(手段)＜＜Δ(對象)，這個檢定（史老師說的計量）還能夠說是“統(tǒng)計測量”嗎？這種例子應(yīng)該是比比皆是，如何用公式（1）解釋和判定？
　　既然用量塊測量百分表的示值誤差的測量示例史老師看成計量問題，那么咱們可以舉一個純測量示例，用光滑環(huán)規(guī)測量同品種相同要求的軸，環(huán)規(guī)
是實(shí)物量具，其誤差Δ(手段)→0， 被測量軸的誤差變化Δ(對象)將大于Δ(手段)，而不滿足公式(2) Δ(對象)＜＜Δ(手段)，這個測量還能夠說是“基礎(chǔ)測量”嗎？用溫度計測量今天的氣溫，溫度計是實(shí)物量具，用修正值修正后誤差Δ(手段)→0， 被測溫度的誤差變化Δ(對象)將大于Δ(手段)，而不滿足公式(2) Δ(對象)＜＜Δ(手段)，這個測量還能夠說是“基礎(chǔ)測量”嗎？

謝謝分享！！！！

謝謝分享！！！！